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溶出した正極活物質の負極への劣化影響

展示パネル

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溶出した正極活物質の負極への劣化影響①

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溶出した正極活物質の負極への劣化影響②

関連カタログ

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler2

セパレーター上の金属異物分析

展示パネル

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セパレーター上の金属異物分析

関連カタログ

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微小部X線分析装置
XGT-9000

関連カタログ

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卓上型蛍光 X 線分析装置　MESA-50
仕様・特長

関連カタログ

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卓上型蛍光 X 線分析装置　MESA-50
アプリケーション

正極材料中の炭素濃度管理

展示パネル

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正極材料中の炭素濃度管理

関連カタログ

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炭素・硫黄分析装置
EMIA-Expert

固体電解質の元素分析

展示パネル

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固体電解質の元素分析

関連カタログ

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler2

固体電解質粉末（硫化物系）の分析

展示パネル

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固体電解質粉末（硫化物系）の分析

関連カタログ

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レーザーラマン分光測定装置
LabRAM HR Evolution

関連カタログ

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Raman Navi （HORIBA ラマン分光分析装置ラインアップ）

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バッテリ異常時のガス計測を可能にするHORIBAのリアルタイム計測ソリューション

電池(液LIB、全固体)材料やFC材料開発における最新の分析・解析と評価手法

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075-325-5174
電話受付時間
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［大型連休に伴う休業のお知らせ］

誠に勝手ながら、2022年4月29日（金）～5月8日（日）はHORIBAグループの全社休業日となります。
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ご不便をお掛けしますが、ご理解、ご了承いただけますようお願いいたします。

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