カタログ・アプリケーションノート・論文・詳細資料をご覧になるにはログインしてください。

ご覧になる資料の製品や分野に関して、HORIBAグループの営業担当よりご連絡させていただくことがございます。あらかじめご了承いただきますようお願い申し上げます。


GD-OES法は、水素Hを分析することができるというユニークな特長を有しています。


rf-GD-OESは原子発光を応用した分光分析法のため、水素Hなどの軽元素の分析を行うことができます。


GD-OES法は、一般的に数分、速い時は数秒という測定スピードで分析を完了させることが出来ます。GD-OES法のこの最も大きな特長である迅速分析手法を活用し、メッキの欠陥解析を行った事例をご紹介します。


パスワードを紛失された場合

メールアドレスを入力して「仮パスワード発行」ボタンをクリックしてください。ご入力いただいたメールアドレス宛てに、仮パスワードをお送りいたします。(メールアドレスは送信前に再度ご確認ください。) 安全のため、ログイン後すぐにパスワードをご変更いただきますようお願いいたします。

メールアドレス


ログインへ戻る