Pd触媒のNO吸着


ラマン顕微鏡による触媒の結晶性評価

ガスを触媒に流した時に内部で酸化物が生成していく状態を評価することで、触媒の還元性能を確認できます。低波数測定が得意なラマン分 光分析なら、金属酸化物の状態変化(PdO→Pd)を高感度で計測することができます。また、オプションを使うことで、In-situ サンプリングも可能です。

Pd触媒のNO吸着

ラマン顕微鏡 XploRAシリーズ

明・暗視野、偏光、微分干渉などの観察機能
物質の化学組成の同定、分子構造の解析に最適
高速・多彩なオプションに対応

ラマン顕微鏡 XploRAシリーズ

触媒インクの凝集評価


レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置の高濃度セルを用いた原液状態での粒子径測定

原液状態で粒子径分布を測定することで、触媒性能評価に貢献します。

データご提供:東京工業大学 平井・笹部研究室、FC-Cubic

レーザ回折 / 散乱式粒子径分布測定装置 Partica LA-960V2

粒子径10 nm ~ 5000 μm まで対応
NISTトレーサブルな標準試料に対して±0.6% の高精度保証
高濃度セルを用いて高濃度状態での粒子径分布が測定可能

レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置(粒度分布) LA-960V2 高濃度測定用セル

触媒中の炭素・硫黄定量分析


炭素・硫黄分析装置による定量分析

水素製造プロセスの高性能触媒など、触媒効率や性能評価において、炭素・硫黄の定量分析に貢献します。

触媒の分析

試料質量 [g] 炭素[mass%]

0.0304

0.2573

0.0315

0.2574

0.0321

0.2599

平均

0.2582

  • 1分析あたり0.1gの少量のサンプル
  • 1分析あたり測定時間約1分
  • ppmオーダー~%オーダーの測定濃度範囲


固体中炭素・硫黄分析装置 EMIA-Pro

加熱温度可変機能で全量分析可能
温度別・状態別に分離させての定量分析も可能

固体中炭素・硫黄分析装置 EMIA-Pro

触媒前後のガス濃度分析


マルチガス分析計による触媒性能評価

原料ガスと触媒通過後の変化量や水素精製膜通過における純度など様々なガス成分の濃度監視に貢献します。


マルチガス分析計 VA-5000/VA-5000WM シリーズ

多様なガス成分に対応(シロキサン測定可能)
幅広い測定レンジでさまざまなニーズをカバー

マルチガス分析計 VA-5000/VA-5000WM シリーズ