積層セラミックコンデンサ(MLCC)の酸素欠損分析


カソードルミネッセンス(CL)による誘電体層の微小部分析

ハイブリッドカーやスマートフォンに多く搭載されるMLCCですが、誘電体層に酸素欠損が生じることで、抵抗が低下し、電流リークが発生することがあります。 HORIBA CLUE シリーズでは微小領域を高分解能で、感度よく分析できるため、誘電体層の微小部分析が可能です。


カソードルミネッセンス測定システム HORIBA CLUE series

既設の電子顕微鏡に追加可能
紫外〜近赤外波長(200 ~ 2,100 nm)の測定に対応
SEM一体型高範囲CLイメージング装置(Imaging CL)もラインアップ

カソードルミネッセンス測定システム

MLCCの残存炭素量分析


昇温分析機能による表面および内部炭素の定量分析

脱脂・焼成工程で残存する炭素は、内部欠陥の原因となることから測定が不可欠です。 管状電気抵抗加熱炉方式のEMIA-Stepなら、加熱温度と時間を任意に設定できるため、炭素の全量分析だけでなく、温度別・状態別に分離させての分析が可能です。


材料中炭素・硫黄分析装置 EMIA-Step

低温域からの温度コントロールを実現
ユーザーサポート機能満載のソフトウェア搭載
温調ホルダ使用可能 (試料サイズは別途ご相談)

新型 材料中炭素・硫黄分析装置 EMIA-Step製品ページへ

MLCCの原材料分析


セラミックス原料(チタン酸バリウム)の結晶構造観察

BaTiO3の結晶構造は温度によって相転移し、誘電率が大きく変化します。ラマン分光分析と加熱・冷却ステージ組み合わせることで温度を変化させて、相転移が徐々に進む様子や温度ごとの結晶状態を観察することができます。


ラマンイメージング装置 LabRAM Soleil

さらに進化した高速・高機能共焦点イメージングを実現
ワークフローの高速化・簡易化を実現
ワンパッケージ化( < 1 m² )と高い拡張性


フィルム材料の異物分析


微小部X線分析装置による非破壊分析

高輝度X線による高速スクリーニングと強調表示で異物を迅速に検出できます。前処理不要、非破壊・非接触で分析できるため、異物に影響なく、断面だしの時間も短縮できます。


微小部X線分析装置 XGT-9000

前処理不要・非破壊で簡単元素分析
微小な領域でも高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
多彩な画像解析ソフトも充実

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次世代ディスプレイ材料(量子ドット)の評価


量子ドットの蛍光分析とナノ粒子解析

量子ドットはナノレベルの粒子径を変えることで、任意の色に光を変換するように作製できることから、次世代ディスプレイ材料として使われています。 Nanologではグレーティングを2枚使用した分光器を搭載しており、微弱かつシャープなピークを正確に検出することが可能です。また、ナノ粒子の粒子径分布測定にはnanoPartica SZ-100V2がおすすめです。


モジュール型近赤外高速蛍光分光測定装置 NanoLog

近赤外・発光寿命測定拡張可能
紫外〜近赤外領域の蛍光測定に対応可能
多彩なアタッチメントで多様なアプリケーションに対応可能

モジュール型近赤外高速蛍光分光測定装置


ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

1台3役 粒子径・ゼータ電位・分子量測定
粒子径0.3 nm~10 μm、ゼータ電位 -500~+500 mVまで対応
ppmオーダの希薄系から数10%レベルの高濃度試料まで対応

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

希土類磁石材料中の酸素分析


ネオジウム磁石材料中の酸素分析

ハイブリッドカーや電気自動車のモータに使われる希土類磁石は、酸素量の違いにより磁気特性に影響を与えるため、酸素の分析が必要です。 酸素・窒素分析装置EMGAシリーズなら、簡単・迅速に酸素の定量分析ができます。


酸素・窒素分析装置 EMGA-920

測定濃度ワイドレンジ 酸素 〜5%(m/m)、窒素 〜3%(m/m)
高精度でスピーディな元素分析を実現

酸素・窒素分析装置 EMGA-920