• 腐食挙動
    • ラマンイメージング装置による鉄さび種(赤錆と黒錆)の解析
  • 混入異物の同定
    • 微小部X線分析装置によるテフロン(PTFE)異物分析
  • 粒子検出
    • 微小部X線分析装置によるフィルタで捕集された異物粒子の検出

腐食挙動


ラマンイメージング装置による鉄さび種(赤錆と黒錆)の解析

ラマン分光装置では酸化物の組成や水酸化物との区別が可能なため、鉄さびの科学種を判別することができます。


ラマンイメージング装置 LabRAM Soleil

さらに進化した高速・高機能共焦点イメージングを実現
ワークフローの高速化・簡易化を実現
ワンパッケージ化( < 1 m² )と高い拡張性


混入異物の同定


微小部X線分析装置によるテフロン(PTFE)異物分析

製造工程中の異物を同定することにより、混入経路の推測や工程改善につながります。

製造プロセス中で発生するテフロン(PTFE)のように、黒色のフッ素ゴムが異物として混入した場合、FT-IRでは測定が困難ですが、XGT-9000ならフッ素も検出できるため、異物がフッ素ゴムであることが容易に推測できます。


粒子検出


微小部X線分析装置によるフィルタで捕集された異物粒子の検出

観察像から粒子検出機能を用いて、粒子径情報や粒子座標を取得できます。さらに検出した粒子をポイント分析することで、粒子の元素を特定できます。


微小部X線分析装置 XGT-9000

前処理不要・非破壊で簡単元素分析
微小な領域でも高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
多彩な画像解析ソフトも充実

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