プラズマ窒化処理したステンレス鋼の分析例


グロー放電発光表面分析装置による深さ方向元素プロファイル分析

SUS316Lにアクティブスクリーンプラズマ窒化した後の断面組織と元素プロファイルです。試料最表面に厚さ0.3 μmの堆積物層が、その下に厚さ3 μmの窒素濃化層(ステンレス鋼に窒素が過飽和に固溶したS相*)が形成されていることがわかります。GD-Profiler 2なら、0.3 μmの最表面堆積物層の確認から10 μmの深さ方向までの元素プロファイルの確認も可能です。


マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置 GD-Profiler2

迅速かつ簡単に深さ方向の元素分布を評価
H~Uまで検出可能
化合物半導体薄膜の研究開発・生産技術・品質管理の分野で幅広く活用

マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置(GDS) GD-Profiler2

CFRP(炭素繊維強化プラスチック)の評価


顕微レーザラマン分光測定装置による応力評価

CFRPはカーボン繊維の方向によって強度が大きく変わり、その応力の評価が重要となります。LabRAM HR Evolutionでは、高い波数分解能により、微小な応力の変化をピーク位置のシフト量から分析できるため、新たな軽量化ボディ材料の研究開発に活用されています。


顕微レーザラマン分光測定装置 LabRAM HR Evolution

業界最高レベル*の応力分解能
(*2020年当社調べ)
12インチウェハまでマッピング対応可能
温調ホルダ使用可能
(試料サイズは別途ご相談)

顕微レーザーラマン分光測定装置 LabRAM HR Evolution

CFRPのフィラーの軽元素成分分布


微小部X線分析装置による元素マッピング

車体の軽量化において、金属材料から炭素材料やエンジニアリングプラスチックなど、新材料の研究が進められています。蛍光X線分析装置では、繊維強化樹脂フィラーの軽元素成分の分布が確認できます。


微小部X線分析装置 XGT-9000

前処理不要・非破壊で簡単元素分析
微小な領域でも高精細な光学観察で測定ポイントに迅速アクセス
多彩な画像解析ソフトも充実

微小部X線分析装置 XGT-9000製品ページへ

樹脂材料の評価


分光エリプソメータによる膜厚・膜質分析

樹脂材料に使われるポリカーボネートは、性能向上のため、非常に薄くかつ近い組成の多層コーティングが施されています。UVISEL Plusは、正確な薄膜分析だけでなく、屈折率や消衰係数から膜質評価も可能なため、コーティング層の研究開発に貢献しています。


分光エリプソメータ UVISEL Plus

Åオーダの膜厚の光学定数評価
機械的動作を伴わない位相変調方式と温調機能により、振動などの影響を抑え、高いSN比で信頼性のある評価が可能です。
85 μmまでの膜厚評価(膜の状態に依存)
高い波長分解能と独自の光学系により、広いレンジの膜厚評価が可能です。

分光エリプソメータ UVISEL Plus

樹脂中フィラーの分散性の複合分析


ナノ粒子解析装置とラマン顕微鏡を組み合わせた凝集・分散評価

樹脂中のフィラーは分散性のコントロールが難しく、凝集すると接触面積が減少するため、性能が低下します。 特にナノサイズのフィラーは凝集しやすく、ナノレベルでの粒子径分布を測定できるnanoPartica SZ-100V2で、分散性を確認することが重要です。 さらにラマン分光分析なら、三次元で分散状態を観察できます。


ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

1台3役 粒子径・ゼータ電位・分子量測定
粒子径0.3 nm~10 μm、ゼータ電位-200~+200 mVまで対応
ppmオーダの希薄系から数10%レベルの高濃度試料まで対応

ナノ粒子解析装置 nanoPartica SZ-100V2

ラマン顕微鏡 XploRAシリーズ

明・暗視野、偏光、微分干渉などの観察機能
物質の化学組成の同定、分子構造の解析に最適
高速・多彩なオプションに対応

ラマン顕微鏡 XploRAシリーズ

カーボンブラックやアルミなど材料中の水素分析


水素分析装置による水素定量

ゴム製品において、物性を向上させるために使われるカーボンブラック中の有機物量は、水素を定量することで測定できます。 さらに昇温分析機能を使えば、有機物として存在している材料中の水素と、水分として表面に付着している水素を分離して測定 できます。EMGAなら金属中だけでなく、カーボンブラックやアルミといった材料中の水素分析も可能です。


水素分析装置 EMGA-921

水素成分を自動化機構により簡単、高速、高精度測定
メンテナンス性向上
オートクリーナ/るつぼローダ標準装備

水素分析装置 EMGA-921