2009年8月27日 - 《測定レンジ10倍/感度100倍》 業界一ワイドレンジで業界一高精度

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2007年8月28日 - 軽元素6倍の高感度分析の最高機種

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2007年8月22日 - 13種類の方法から最適を選んで粒子測定  粉、霧状、スラリーなどさまざまなサンプルに対応

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2007年2月27日 - 当社は、3月開始される中国版RoHS(電子情報製品汚染制御管理便法)で有害元素物質の検査需要が増加することに対応するため、X線分析装置の品揃えを強化します。既販売機種に比べて、高感度化して分析時間を最大1/4に短縮、生産現場向け機種の新型(XGT-1700WRシリーズ)を開発、3月1日発売します。EUに続いて始まる中国の有害元素規制は、家電製品に留まらず、半導体製造装置や医療機器にまで対象製品が拡大されるため、検査需要が業種・種類・物量共に増加が見込まれる...

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2006年8月22日 - 『2006 堀場雅夫賞』受賞者決定/授賞式は10月17日 社外の「分析計測技術」研究者の奨励賞─

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2006年4月10日 - 当社は、慶應義塾大学 清水健一教授と共同で、電子顕微鏡や光学顕微鏡用試料の表面を10秒という短時間で処理できる装置を、世界で初めて開発しました。従来の試料前処理作業は約3時間要していたのと比べて、約1000分の1以下と圧倒的に短時間が可能となります。さらに前処理時にエッチング薬品を用いないため、廃液処理が不要で環境負荷も軽減できます。加えて、簡単操作で熟練具合による個人差が生じません。最先端の研究分野や品質管理分野などにおける顕微鏡作業を大幅に軽減につなが...

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2006年3月29日 - 対象テーマは「X線分析」

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