表面処理  ~GD-OESアプリケーション~

めっき

めっき試験片の深さ方向の元素分析 
1日10検体以上のメッキ試験片を数10μmレベルの深さまで元素分析した例を示します。

亜鉛めっき鋼板上有機皮膜の分析精度向上 
有機皮膜の熱ダメージを軽減してガラス表面の深さ方向元素分析を行いました。

熱処理

表面処理の洗浄工程における残存元素確認 
金属表面の皮膜形成原因となる元素を迅速に測定できます。

アルマイト処理材の迅速な深さ方向元素分析 
アルマイト処理材の深さ方向に100μmの深さまで元素分析をたった数分で行いました。

迅速分析例:熱処理部品[1]
GD-OES法は、一般的に数分、速い時は数秒という測定スピードで分析を完了させることが出来 ます。これは、分析時のスパッタリング速度が約1~10μmという高速であるためです。

迅速分析例:熱処理部品[2]
GD-OES法は、一般的に数分、速い時は数秒という測定スピードで分析を完了させることがで きる迅速表面分析法です。しかし、100μm程度が一般的に分析できる深さの限界と言われています。

迅速分析例:界面における拡散解析
GD-OES法は、一般的に数分、速い時は数秒という測定スピードで分析を完了させることができる迅速表面分析法です。よって、短時間で分析・解析することができます。

コーティング

迅速分析例:自動車用ボディーの分析例
高周波(Radio-Frequency)方式を用いたGD-OES法では、非導電性の皮膜でも問題なく、深さ方向分析を行うことができます。

迅速分析例:Znメッキのブリスター(膨れ)解析
GD-OES法は、一般的に数分、速い時は数秒という測定スピードで分析を完了させることが出来ます。GD-OES法のこの最も大きな特長である迅速分析手法を活用し、メッキの欠陥解析を行った事例をご紹介します。

新型高周波電源による有機皮膜分析
新型のデジタルマッチング制御式高周波電源を用いれば、従来難しかった低い出力でのプラズマ点灯・スパッタが可能になるため、熱影響の大きい有機系試料へのダメージがより低減することが可能です。

熱緩和・低速スパッタリングの適用例:有機皮膜 
熱電導性の低いサンプルや熱ダメージに弱いサンプルに対して、堀場製作所の特許であるパルススパッタリングは良好な測定結果が得られます。ここでは、ステンレス基板上のゴム皮膜を通常スパッタ法とパルススパッタ法で測定した結果を示します。