モジュール型近赤外高速蛍光分光測定装置 NanoLog

概要

モジュール型蛍光分光光度計Nanologは紫外・可視域から近赤外域までの蛍光およびりん光測定に対応できます。また発光寿命・りん光寿命測定機能も拡張可能です。アプリケーションに適した仕様を選択できるため、フレキシブルなシステム構築を提案します。

特長

  • 高輝度ランプによる高感度測定
  • ダブルグレーティング分光器による低迷光
  • 近赤外検出器の搭載による広い波長範囲対応力
  • 蛍光寿命機能を搭載可能
  • アレイタイプ検出器を搭載でき高速スペクトル測定が可能

装置構成例

 検出器3 式、分光器3 式、発光寿命機能などを搭載した事例

<本構成装置の特徴>

  • ダブルグレーティング分光器による超低迷光励起
  • 紫外可視検出器と近赤外検出器による超ワイドレンジ測定
  • 高速応答検出器によるpsec. オーダ蛍光寿命測定


■高速スペクトル測定

ローダミンB の蛍光スペクトル 50 回繰り返し測定結果(波長スキャン:0.5 nm)

CCD 検出器を搭載することによりスペクトルを1 秒未満の高速で取得できます。

試料に依存

■超高感度測定

50 fM のフルオレセイン(溶媒: 0.01N NaOH)の蛍光スペクトル

フォトンカウンティング法など高感度・高SN 比測定に必要なパーツを駆使し、超希薄濃度での試料測定を実現します。



装置感度

装置感度評価条件

  • 試料:超純水
  • 励起波長:350 nm(バンドパス 5 nm)
  • 発光波長:365 ~ 455 nm(バンドパス 5 nm)
  • 発光波長ステップ間隔:0.5 nm
  • 積算時間:0.5 秒
  • スムージングなし
  • 室温検出器での測定
  • いかなる種類の光フィルタもなし 

■励起発光スペクトル測定(EEM:Excitation Emission Matrix)

カーボンナノチューブの励起発光スペクトル

マルチチャンネルIGA 検出器を搭載することにより励起発光スペクトルを短時間で取得できます。

■近赤外発光スペクトル測定

酸化ユーロピウム粉末の励起スペクトルと発光スペクトル

1 台の装置で紫外領域~近赤外領域(約2000 nm)まで高い波長分解能で発光スペクトルを取得できます。

■表面測光光学系

2 つの光学系(表面測光と90 度測光)の蛍光スペクトル比較

不透明な液体試料は、励起光に対して90 度の角度では発光をとらえることができません。表面測光光学系を使用すれば取得できます。

  


カタログ

モジュール型蛍光分光測定装置 Nanolog


製造会社: HORIBA Scientific

仕様

項目

仕様

励起光源

空冷ハウジング内に垂直に装着された450W Xeショートアークランプを使用
全波長で最大の効果が得られるミラーによる集光
オプションでりん光用Xeフラッシュランプの搭載も可能

光学系

全反射型(微小サンプルでも全波長でフォーカシング可能でかつ正確なイメージングが可能)

分光器

グレーティングおよび反射光学系を採用したツェルニィ・ターナーマウント
シングル分光器またはダブル分光器を選択可能スリットは連続的に調整可能
(バンドパス : 0-30 nm(シングルグレーティング)、0-15 nm(ダブルグレーティング))
グレーティングは最適な仕様のものに交換可能

試料室

はめ込み型の各種サンプル試料台アセンブリーに対応
リアルタイム励起光補正用検出器付
第二蛍光検出チャンネルの使用を可能にするT型配置光学系を拡張可能
試料台は取り外し可能、 表面測光光学系を搭載可能

検出器

■励起側
200-980 nm対応 励起リファレンス補正用フォトダイオード
■発光側
発光計測用はPMT、フォトダイオード、アレイ検出器など搭載可能

スリット幅

コンピュータ制御による自動連続開閉可能。バンドパス範囲 0〜30 nm

環境温度

15-30℃

最大湿度

75%

電気系

5A,100V(日本標準仕様), 50Hz

りん光測定モード

励起光源

UVキセノンフラッシュランプ

フラッシュレイト

0.05-33 Hz

フラッシュ後ディレイ

50 μs〜10s±1 μs(1 μsステップサイズで)

外形寸法図・他(単位:mm)

Schematic of the NanoLog, showing the optical path from source through sample to detectors

アプリケーション

太陽電池・蛍光プローブ・人工光合成・分子間相互作用・光通信材料など