结构、材料的状态&分子的密度&晶体

Auto SE——让您的例行测量工作不再枯燥！

• 超高光泽度测量
• 0~100和0~1000双测量量程
• 设计轻巧，使用简便
• 测量角度60度

 

Real time interferometric endpoint for depth targeting.

在线椭圆偏振光谱仪用于涂镀和连续卷式系统

产品:

UVISEL VIS: 210-880 nm

UVISEL FUV: 190-880 nm

UVISEL NIR: 245-2100 nm

UVISEL ER: 190-2100 nm

UVISEL VUV: 142-880 nm

测量薄膜厚度和光学常数。用于研究和工艺发展.

集成了椭圆偏振光谱仪和反射光谱仪

Xelplex 系统–利用表面等离子共振分析成像技术，是无需荧光标定、多通道生物鉴定及生物研究的最理想方法。