材料&性能描述

产品:

UVISEL VIS: 210-880 nm

UVISEL FUV: 190-880 nm

UVISEL NIR: 245-2100 nm

UVISEL ER: 190-2100 nm

UVISEL VUV: 142-880 nm

测量薄膜厚度和光学常数。用于研究和工艺发展.

集成了椭圆偏振光谱仪和反射光谱仪

Xelplex 系统–利用表面等离子共振分析成像技术，是无需荧光标定、多通道生物鉴定及生物研究的最理想方法。

单点分析以及自动球面成像.

双真空管模式.

光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µm.