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半导体&FPD制造过程控制
MV-2000系列实现高效的汽化,即使在低温情况下也可通过螺旋式加热达到汽化效果。此种汽化方式适用于半导体制造工艺,诸如“High-k”——一种易热解的液体源
Endpoint controller for plasma etch cluster tools: Simultaneous Real Time Multi-Chamber - Multi diagnosis monitor
PR-PD2是通过激光散射方式对曝光工艺中光掩模上的细小颗粒进行检测的装置。可检测光掩模图案面(Pattern Surface)上的最小粒径为0.35μm。并且通过线&空间1.0〜1.5μm的图案识别功能,可以把检测误差抑制在最低限度。










