椭圆偏振仪
表面分析
- Determination of the Refractive Index of Y2O3 on Glass and
- Spectroscopic Ellipsometry study of ZnO thin films
- Standard Applications by Spectroscopic Ellipsometry
- Characterisation of TiO2 Thin Films and Multilayer Antireflective Coatings by Spectroscopic Ellipsometry
- Characterisation of ZrO2 Thin Films on Glass Substrates by Spectroscopic Ellipsometry
- Characterisation of ZrO2 Thin Films on Glass Substrates
- Characterisation of TiO2 Thin Films and Multilayer Antireflective Coatings
- Characterisation of DNA Sensor Pads using the UVISEL Spectroscopic Phase Modulated Ellipsometer
- Determination of the Refractive Index of Y2O3 on Glass and Pre-evaporated Substrates by Spectroscopic Ellipsomeetry
- Characterization of Barrier Layers by Spectroscopic Ellipsometry for Packaging Applications
- Characterization of Electrochromic Devices by Spectroscopic Ellipsometry
- Characterzation of GeSbTe films by Spectroscoplc Ellipsometry for Rewritable Optical Discs
- Thin Films & NanoMaterials Characterization by Spectroscopic Ellipsometry
Upcoming Events
2011-03- 1 - 应用于工业控制的分析仪器越来越多地需要遵从应用IQ/OQ/PQ协议的验证过程。OneCheck软件包为激光拉曼光谱仪系统提供了无可争议的验证方案，从而符合这些要求，保证得到最可靠的实验结果。 一条典...
2011-04-20 - 为更好地服务中国用户，加强对中国区客户的应用支持及培训，2011年2月25日HORIBA...
2011-04-27 - 为您的实验室节约更多空间！ HORIBA Scientific发布了最新款的SPRi-Lab+系统，一款实时监控多通道平行、无标记生物分子相互作用的紧凑灵活的仪器。
2011-06-29 - 利用荧光寿命进行成像，具有TCSPC单光子计数的灵敏度，全自动化体系，紧凑独立的系统。
2011-06-30 - 2011年度HORIBA Scientific第四期拉曼用户培训班在上海圆满完成培训课程
2011-06-30 - 四月底，HORIBA...
2011-06-30 - HORIBA Scientific在赣州顺利召开了2011年度ICP光谱技术交流会
2012-03-30 - 近期，法国总统尼古拉·萨科齐参观了在波尔多省阿基坦的兆焦耳激光项目(Megajoule Laser，简称LMJ)。 兆焦耳激光(LMJ)是世界上最高的能量,...
2012-03-30 - 2012年3月22日，Aqualog®吸收和三维荧光扫描光谱仪荣获中国科学仪器发展年会颁布的“2011科学仪器优秀新产品奖”，这是HORIBA...
2012-03-29 - ——让测定CDOM变得简单
