本例使用拉曼和显微X射线荧光技术对一块抛光的花岗岩截面进行了分析。其中上图是拉曼成像图，每点的采集时间是2s，图中给出了FeS (红色), SiO₂ (绿色) 和(K,Na)AlSi₃O₈ (蓝色)的分布情况。

左下图是对上图的中心部分进行超快速SWIFT™成像获得的分布图，总采集时间只有10 ms。右下图是对同一区域采用XGT-7000显微X射线荧光分析仪进行成像分析获得的结果，其中X射线的波长为10μm，每点采集时间为3ms。从X射线荧光图像上可以看出样品中存在Fe和S (红色)、Si (绿色) 和K (蓝色)。

感谢Dr George J. Havrilla (Los Alamos National Laboratory, USA) 提供的数据以及Jeremy Shaver (Eigenvector Research Inc., USA)提供的数据处理。