Material und Eigenschaften

Produkte: UVISEL VIS: 210-880 nm | UVISEL FUV: 190-880 nm | UVISEL NIR: 245-2100 nm | UVISEL ER: 190-2100 nm | UVISEL VUV: 145-880 nm

Messung dünner Schichten und optischer Konstanten. Für Forschung und Prozessentwicklung.

Integrated Spectroscopic Ellipsometer and Spectroscopic Reflectometer

Xelplex ist die ideale Lösung für die label-freie Multiplex-Analyse von molekularen Wechselwirkungen.

Einzelpunktanalyse und automatisiertes hyperspektrales Imaging

zwei verschiedene Vakuum-Optionen

Analysenspot-Durchmesser von 1,2mm bis zu einmaligen 10µm