Dünnschicht Kontrolle

Xelplex ist die ideale Lösung für die label-freie Multiplex-Analyse von molekularen Wechselwirkungen.

Einzelpunktanalyse und automatisiertes hyperspektrales Imaging

zwei verschiedene Vakuum-Optionen

Analysenspot-Durchmesser von 1,2mm bis zu einmaligen 10µm