• Référence: HOR3
  • Dates:

    • 16 février 2018
    • 18 octobre 2018

  • Participants: Utilisateurs disposant d’un analyseur par fluorescence X (XGT/MESA-50).
  • Durée: 1 Jour (9h - 17h 30, 7 heures)
  • Lieu: Palaiseau
  • Acquérir une connaissance approfondie du principe des analyseurs XGT / MESA-50
  • Découvrez comment utiliser le XGT / MESA-50 pour l’analyse WEEE / RoHS
  • Apprenez à utiliser le XGT / MESA-50 et optimisez les conditions pour un échantillon inconnu
  • Maintenance pour une utilisation optimale de l’instrument

  • Présentation générale de la gamme des instruments XRF
  • Principe de la fluorescence dispersive des rayons X
  • Description des différents éléments des instruments (tube à rayons X, détecteur, collimateurs, filtres, caméra, etc.)
  • Logiciel: Examen complet des différents menus (en fonction des instruments et de la version du logiciel)

    • Comment exécuter une mesure WEEE / RoHS
    • Comment exécuter un échantillon inconnu
    • Analyse qualitative et quantitative
    • Rapports de données

  • Différents exemples d’applications
  • Maintenance
  • Logiciel de mesures d’épaisseur (option)
  • Préparation et montage des échantillons
  • Accessoires: Examen des différents accessoires et options

Utilisateurs disposant d’un analyseur par fluorescence X (XGT/MESA-50).