• Skip to navigation
  • Skip to content
  • Accueil
  • à propos d’HORIBA
  • Investor Relations
  • Actualités
  • Publications
  • Responsabilités sociales
  • Emplois
  • Contactez-nous
HORIBA
Country/Region Selection
France
Site search
  • Tests Moteurs Systèmes
  • Process et environnement
  • Médical
  • Semi-conducteurs
  • Scientifique
  • Recherche de Produits
  • Infos légales
  • Données Personnelles
  • Cookies
  • Accessibilité
  • Plan du site
  • Recherche
Sommaire » Plan du site

Plan du site

  • Accueil
  • à propos d’HORIBA
    • Points-clés
    • Message
    • Philosophie d'entreprise
    • Culture d'entreprise
      • One Company Song
    • Expertise technique
      • Publications techniques
    • Histoire
      • 1945 - 1960
      • Années 1970
      • Années 1980
      • Années 1990
      • Années 2000
      • 2010s
    • Adresses dans le Monde
  • Investor Relations
    • To Our Stakeholders
    • Mid-Long Term Management Plan
    • Financial Information
    • IR News
    • IR Library
      • Financial Statements
        • Fiscal Year 2021
        • Fiscal Year 2020
        • Fiscal Year 2019
        • Fiscal Year 2018
        • Fiscal Year 2017
        • Fiscal Year 2011
        • Fiscal Year 2015
        • Fiscal Year 2014
        • Fiscal Year 2013
        • Fiscal Year 2012
        • Fiscal Year 2011
        • Fiscal Year 2010
        • Fiscal Year 2009
        • Fiscal Year 2008
        • Fiscal Year 2007
        • Fiscal Year 12/2006
        • Fiscal Year 3/2006
        • Fiscal Year 2005
        • Fiscal Year 2004
        • Fiscal Year 2003
        • Fiscal Year 2002
        • Fiscal Year 2001
        • Fiscal Year 2000
        • Fiscal Year 1999
        • Fiscal Year 1998
        • Fiscal Year 1997
      • Annual Reports
    • IR Calendar
    • Stock Information
    • Board of Directors
    • Corporate Governance
    • IR Contact
    • Disclaimer
  • Actualités
    • Actualités
    • Evènements
  • Publications
    • Journal Technique "Readout"
  • Responsabilités sociales
    • Politique Sociétale
    • Politique Environnement, Qualité et Sécurité
    • Système de Management Intégré
    • Actions pour RoHS et REACH
    • HORIBA Report
    • Relations avec les partenaires
    • Pacte Mondial de l’ONU
    • Relation with business partner
      • Procurement Policy
      • Green Procurement
      • Response to Issues on Conflict Minerals
    • Protocole de sécurité
  • Emplois
  • Tests Moteurs Systèmes
    • Products
      • Emission Measurement Systems
        • Analytical Systems
          • Standard Emissions
          • Particulates
        • On-Board Systems
        • Portable Emission Analyzers
        • Dilution / Sampling Systems
        • Further Systems
      • Mechatronic Systems
        • Engine Test Systems
        • Driveline Test Systems
        • Brake Test Systems
          • Standard Brake Test Systems
          • Special Brake Test Systems
          • Brake Automation Platform
          • Optional Features
        • Fuel Flow Measurement
        • Vehicle Test Systems
        • Altitude Simulator
        • Turn Key Solutions
        • Wind Tunnel Balances
      • Test Automation Systems
        • Vehicle Emissions Test systems
        • STARS Automation System
        • Analysis and Evaluation Tools
    • Support and Service
      • Maintenance Services
      • Calibration Services
      • Dynamometer Overhaul
      • Spare Parts
      • On-Site Problem Solving
      • Software Support for Test Automation Systems
        • STARS Helpdesk
        • HEAD Helpdesk
      • EMC Analysis Services
      • Training
    • Contract Testing
    • News & Events
      • News
      • Events
  • Process et environnement
    • Produits
      • Air ambiant- Analyseurs basses teneurs
      • Analyseurs de gaz de combustion
        • CEMS- Analyseurs de gaz à l'emission
        • Transportable
      • Analyseurs de gaz de process
        • En ligne, en continu
        • Application pour la recherche
      • Contrôle du traitement des eaux
        • Eaux d'écoulement
        • Environnement
        • On-site H-1 series
      • Mesure de la qualité des eaux
        • Parmaceutique, cosmétique, alimentaire
        • Portable et de terrain
        • Applications de laboratoire
      • Intégration de sytèmes
        • Intégration de systèmes d'analyse
      • Thermomètres
        • Fixes
        • Portables
        • About Thermometry
        • How to Select a Thermometer
        • Use of Infrared Thermometers
        • Setting for Accuracy
        • Q&A
      • Brillancemètres
        • Contact us
      • Radiamètre pour la Détection des Rayonnements Gamma
    • Actualités et évènements
      • Actualités
      • Evènements
    • Nous connaître
    • Contact et demande d'information
      • Formulaire de contact
      • Coordonnées
        • Asie et Océanie
          • Chine
            • HORIBA (CHINA) TRADING CO., LTD.
              • Guangzhou
          • Corée
            • HORIBA KOREA LTD
              • Seoul
          • Singapour
            • HORIBA Instruments Pte, Ltd.
          • Japon
            • HORIBA, Ltd.
            • HORIBA Advanced Techno Co., Ltd.
          • Inde
            • HORIBA India Private Ltd.
        • Amériques
          • Etats-Unis
            • HORIBA Instruments Incorporated
              • Irvine -Stack Gas Analyzers, Air Pollution Analyzers, Water Quality Analyzers and Radiation Monitor
              • Houston -System Integration, Stack Gas Analyzers, and Water Quality Analyzers
        • Europe, Afrique et Moyen Orient
          • Autriche et Europe de l'est
            • HORIBA GmbH
              • Austria & East Europe
          • BeNeLux
            • HORIBA
              • BeNeLux
          • Allemagne, Europe de l'ouest et Moyen-Orient
            • HORIBA Europe GmbH Leichlingen Facility
              • Allemagne, Moyen Orient
          • Royaume-uni et Irelande
            • HORIBA UK Ltd.
              • Ireland & UK
          • République Tchèque
            • HORIBA GmbH, organizacni slozka
              • Praha
          • Russie
            • HORIBA, Ltd. Moscow Representative Office
        • Autres Pays
    • Download Center
  • Médical
    • Produits
      • Hématologie
        • ABX Pentra XL 80 - Pentra XLR
        • ABX Pentra 60
        • ABX Micros
        • Yumizen H500
        • Yumizen H550
        • Yumizen H2500/H1500
        • Yumizen P8000
        • Yumizen T6000
        • Yumizen SPS
        • QAP
        • Digital Cell Morphology Systems
      • Global Hematology Solutions
        • HELO
        • Yu & Mi
      • Hémostase
        • Yumizen G1550
        • Yumizen G800
        • Yumizen G400
        • Yumizen G200
      • Chimie Clinique
        • Pentra C200
        • Pentra C400
      • Point of Care
        • Microsemi CRP
        • Pentra MSCRP
      • Peri Analytique
        • ABX Pentra ML
        • EasyCell
        • Digital Cell Morphology Systems
        • Hemaprep
      • Vitesse de sédimentation
    • Technologie
      • DHSS
      • MDSS
      • Bilan Réticulocytaire
      • CBC + CRP
      • SPS
      • Repassage Automatique
    • Support Clients
      • Formulaire de Contact
      • Base de documentation
      • Quality Control Program
      • Quality Slide Program
      • International Technical Support access
    • Yumizen
    • Témoignages
      • Validation analytique et comparaison de méthode du système HORIBA Medical Yumizen G1550® versus Stago STA-R Evolution®
      • Yumizen H1500/H2500 - Laboratory of Medical Biology, Institut Bergonié, Bordeaux
      • Yumizen H2500 - Service d'Hématologie Biologique, CHU de Nantes
      • Témoignage : Hemacam évalué à l'Hôpital St Joseph St Luc
      • Evaluation : Une nouvelle organisation pour 2000 numérations
      • Article : Fidèle depuis plus de 20 ans...
      • Article : Les soirées QAP
    • Actualités & Agenda
      • Actualités
      • Agenda
    • Société
      • Une présence mondiale
      • Un savoir-faire au service de la clientèle
      • Expert industriel mondial
        • Visite virtuelle
      • Notre ambition
      • L’inventivité technologique
      • Politique Qualité et Certifications
      • Loi Transparence
      • Code de conduite anti-corruption
    • Ressources Humaines
      • Notre Philosophie
      • Nos valeurs
      • Nos engagements
      • Nos métiers
      • Nous rejoindre
      • Notre partenariat écoles
    • Formation
      • Formation
  • Semi-conducteurs
    • Products
      • Product Lines
        • Semiconductor Manufacturing Process Monitor
          • End-point Monitor
          • Residual Gas Monitor
        • Gas Concentration Monitor
        • Chemical Solution Concentration Monitor
          • HF Monitor
          • Resistivity Meter
          • Conductivity Meter
        • Ultra-pure Water Monitor
        • Particle Detection System
          • Reticle/Mask Particle Detection System
          • Automatic Particle Blower
        • Thin Film Analyzer
          • Wafer Thin Film Analyzer
          • FPD Thin Film Analyzer
        • Mass Flow Controller
          • Mass Flow Module
          • Mass Flow Controller
          • Mass Flow Meter
          • Liquid Mass Flow Controller
          • Liquid Mass Flow Meter
          • High Precision Film Flow Meter
        • Liquid Source Vaporization System
          • Vaporization System
          • Auto Refill System
        • Pressure Regulator
          • Pressure Controller
          • Wafer back side cooling system
          • Exhaust Control System
        • Accessories
      • Processes
        • Semiconductor Process
          • Material Analysis
          • Lithography Process
          • DI Water Analysis (Wet Process)
          • Material Analysis (Particulates Analysis & Defect Analysis)
          • Chemical Analysis (Wet Process)
          • Gas Control/Analysis (Dry Process)
          • Process Monitoring (Dry Process)
          • Thin Film Control/Analysis
          • CMP Process
          • Drain Water Analysis
        • FPD Process
          • DI Water Analysis (Wet Process)
          • Material Analysis (Particulates Analysis & Defect Analysis)
          • Chemical Analysis (Wet Process)
          • Gas Control/Analysis (Dry Process)
          • Process Monitoring (Dry Process)
          • Plasma Process Control
          • Drain Water Analysis
          • Thin Film Analysis
        • Photovoltaic Process
          • Crystalline Silicon
          • Thin Film Silicon
          • Compound CIGS
          • Organic Dye-sensitized
          • Impurity Control
          • Material Analysis
          • DI Water Analysis
          • Thin Film Control/Analysis
          • Chemical Analysis
          • Gas Control/Analysis/Process Monitoring
      • Measuring Object
        • SC-1
        • SC-2
        • BHF
        • SPM
        • FPM
        • HF/HNO3
        • TMAH/H2O2
        • Components of various chemicals
        • pH
        • TMAH
        • HF
        • HF/HCl
        • HF/HCl/NH3
        • Resistivity
        • Conductivity
        • Silica
        • Reticle/Mask Particle
        • Various kinds of process gases
        • Film thickness
        • Etching end-point
        • Residual gas
        • Gas flow rate
        • Liquid source flow rate
        • Liquid source vaporization flow rate
        • Gas pressure
      • Measurement Method
        • Absorption spectroscopic method
        • Glass electrode method
        • Conductivity measurement and concentration conversion
        • Electromagnetic induction method
        • Fluoride ion electrode method
        • 2-electrode method
        • 4-electrode method
        • Laser scattering method
        • Molybdenum blue method and absorptiometric method
        • Blowing method
        • CRDS
        • NDIR
        • Spectroscopic ellipsometry
        • Optical interferometric method
        • Plasma emission analysis method
        • Quadrupole mass spectrometry
        • Mass flow measurement Differential pressure detection method
        • Mass flow measurement Thermal sensor method
        • Soap film detection method
      • Product Name
        • Real Time Interferometric Film Thickness Monitor
        • Plasma Diagnosis Endpoint Monitor
        • SC-1 Monitor
        • SC-2 Monitor
        • BHF Monitor
        • SPM Monitor
        • FPM Monitor
        • HF.HNO3 Monitor
        • TMAH/H2O2 Monitor
        • Fiber Optic Type Chemical Solution Concentration Monitor
        • Hydrofluoric Acid Monitor
        • Reticle/Mask Particle Detection System
        • FPD Mask Particle Detection System
        • Automatic Particle Blower
        • Full Automatic Ultra Thin Film Analyzer
        • Spectroscopic Ellipsometer
        • UV Visible Spectroscopic Ellipsometer
        • Full Automatic Film Analyzer
        • Trace HF Concentration Monitor
        • HF Concentration Monitor
        • Low Concentration HF/HCl/NH3 Monitor
        • TMAH Conductivity Monitor
        • Carcon Sensor Conductivity Meter (High Concentration Type)
        • Conductivity Meter (High Concentration Type)
        • Carbon Sensor Resistivity Meter
        • 2-channel Carbon Sensor Resistivity Meter
        • High Sensitivity Silica Monitor
        • Industrial pH Meter
        • Mass Flow Module
        • Digital Mass Flow Controller
        • Digital Mass Flow Controller (for High Temperature Application)
        • Analog Mass Flow Controller
        • Analog Mass Flow Controller (for High Temperature Application)
        • Mass Flow Controller (Low Cost Type)
        • Digital Mass Flow Meter
        • Digital Mass Flow Meter (for High Temperature Application)
        • Analog Mass Flow Meter (for High Temperature Application)
        • Analog Mass Flow Meter
        • Liquid Mass Flow Controller
        • Liquid Mass Flow Meter
        • High-precision Flow Rate Meter for Precision Film
        • Direct Injection System
        • Compact Baking System
        • Liquid Auto Refill System
        • Digital Automatic Pressure Regulator
        • Automatic Pressure Regulator
        • Piezo Actuator Valves
        • Exhaust Pressure Controller
        • Wafer back side cooling system
        • Residual Gas Analyzer
        • Capacitance Manometer
    • Process Control
    • About Us
    • Contact Us
      • Japan
      • America
      • Asia
      • Europe
  • Scientifique
    • Produits
      • Spectroscopie atomique
        • Spectromètres ICP
        • Lampe à décharge luminescente
          • Domaines d’applications
          • Problem solver
          • Instrumentation SDL RF pulsée
            • Detection
            • Source
          • Thickness Measurement DiP
          • Instruments
          • Logiciel
          • Accessoires
          • Coopérations
        • Étalons et préparation d'échantillons
        • Demande SAV
        • Formation
        • Notes d'applications
        • Téléchargements
        • Journée Analyse Elémentaire
        • 8th GD Day
        • Evénements
        • Plus de renseignements
      • Gratings
        • For Industrial Applications
          • Aberration Corrected Concave Spectrograph (Flat Field) Gratings
          • Aberration Corrected Monochromator Gratings (Type IV)
          • Holographic Concave Roland Circle Gratings
          • Holographic Plane Gratings
          • Blazed Holographic Plane Gratings
          • Ruled Plane Gratings
        • For Scientific Applications
          • Laser Pulse Compression
          • Vacuum UV and Soft X-Ray Applications
          • Astronomy and Space Experiments
          • Transmission Gratings for High Energy Lasers
          • Dye Laser and Wavelegnth Selection Gratings
        • Systems & Spectroscopy Solutions
          • Industrial Spectroscopy Solutions
          • Research Spectroscopy Solutions
        • Définitions
        • Actualités
        • Téléchargements
        • Nous contacter
        • Plus de renseignements
        • Miniature Spectrographs
        • Monochromators
        • Raman miniature systems and OEM components for Raman
        • Large research spectrometers
      • Analyseurs élémentaires
        • Carbone/Soufre
        • Oxygen/Nitrogen/Hydrogen
        • Sulfur-in-Oil
          • SLFA Newsletter Signup
        • Micro-XRF Analyzer
        • WEEE/RoHS/ELV
        • Service
        • Formation
        • Notes d'Application
        • Téléchargements
        • Journée Analyse élémentaire
        • Plus de renseignements
      • Ellipsomètres
        • Ellipsomètres Spectroscopiques
        • Ellipsomètres In-Situ, En-Ligne et Dédiés Grande Surface
        • Logiciel
        • Accessoires
        • Académie Ellipsométrie
          • Articles
          • Tutoriel en Ellipsométrie
            • Spectroscopic Ellipsometry Principles
            • Domaines d’Applications des Couches Minces
              • Couches minces fonctionnelles
              • Cellules photovoltaiques
              • Semiconducteurs
              • Ecrans plats
              • Systèmes optoélectroniques
              • Recherche en intéractions surface/interface en biologie et chimie
            • Propriétés Déterminées
              • Introduction aux propriétés
              • Epaisseur des couches minces
              • Constantes optiques et propriétés optiques
              • Mesure de surface
              • Mesure d’interface
              • Propriétés des matériaux
            • Ellipsomètre Spectroscopique à Modulation de Phase
              • Introduction à la technologie de modulation de phase
              • Quels sont les avantages du modulateur photoélastique par rapport aux autres techniques de modulation de polarisation ? (1/2)
              • Quels sont les avantages du modulateur photoélastique par rapport aux autres techniques de modulation de polarisation ? (2/2)
              • Performances qualifiées de l’UVISEL à modulation de phase (1/2)
              • Performances qualifiées de l’UVISEL à modulation de phase (2/2)
          • FAQs
            • Instrumentation
            • Measurement Techniques
            • Data Analysis
          • Vidéos et Webinaires
        • Notes d'Application
          • Articles
        • Formation, Application et Service
          • Service & support Application
            • E-support of your sample modeling
          • Formation
            • Online Training Registration
        • Téléchargements
          • Ellipsometry Brochures downloads
        • Plus de renseignements
        • Actualités & événements
          • Journée Ellipsométrie
      • Spectroscopie de Fluorescence
        • Etats Stationnaires
        • La Durée de Vie
          • TCSPC Components
        • Nanotechnologie
        • Microscopy & Mapping
        • Accessoires
        • Logiciels
        • Tutorials/Webinars
          • PTI EasyRatioPro Software Tutorials
            • Setting up the PCO.EDGE Camera
            • Offline Analysis Method
            • MetaFluor Import
            • Export to MetaFluor
            • Setting up USB interface and instaCal
            • Fader Mapping and Adjustments
            • Export Color Images from ImageJ
            • Dynamic Background Subtraction
            • PTI DeltaRAM Setup in Micromanager
            • Authoring AVI Movies
            • Adjustment Mapping
            • ROI Editor
            • Zoom and Pan Tools
        • Formation
          • Online Training Registration
        • Notes d'aplications
        • Evénements
        • Téléchargement
        • Plus de renseignements
      • Forensique
        • Sources de lumière
        • Applications RUVIS
        • Applications d’imagerie numérique
        • AFIS & APIS
        • Analytical/Microscopy
        • Analytical XRF Microscope
        • Training
        • Téléchargement
        • Plus de renseignements
      • Lampe à décharge luminescente
      • Lasers
      • Materials Characterization
        • Microscopie Raman
        • Photoluminescence (PL)
        • Fluorescence
        • Ellipsométrie
        • Particle Characterization
        • Micro-XRF
        • Plasma Profiling TOFMS
      • OEM Mini CCD Spectrometers
        • CCD & PDA Spectrometers
        • Miniature Spectrographs
        • OEM Miniature Raman Systems
        • Monochromateurs
        • OEM CCD Cameras
          • UV-VIS Camera FI-CCD
          • Raman Camera BI-NIR-CCD
          • VUV Camera
        • Contract Manufacture
        • Notes d'Application
        • Réseaux de Diffraction
        • Téléchargements
        • Nous contacter
        • Plus de renseignements
        • Large Research Spectrometers
        • LN2 & 4-Stage TE Cooled CCDs
      • Optical Building Blocks
      • Spectroscopie Optique
        • Spectromètres & Monochromateurs
          • Anciens Monochromateurs
        • Microscope Spectrometers
          • Introduction to MicOS
          • MicOS Steady State and Time-resolved PL
        • Détecteurs
          • Simple canal
          • Multi canal
            • CCDs
            • InGaAs
          • Low Light Imaging Cameras
            • Synapse
        • Controlleurs d'acquisition
        • Modular Raman and THz (Low Frequency) Raman
        • Logiciel
          • SynerJY
          • LabVIEW Request Form
            • LabVIEW Request Form
        • Sources
        • Accessoires
        • Service & Support
        • Newsletter
          • OSD Newsletter Signup
        • Notes d'Application
        • Plus de renseignements
        • Miniature CCD Spectrometers
        • Mini Raman Spectrometers
        • Miniature Spectrographs
      • Granulométrie et Analyse d'Images
        • Analyse de Taille de Particules
        • Analyse de Forme de Particules
        • Analyse du potentiel zêta
        • Analyse de surface
        • Note D'applications
          • Abrasives
          • Battery
          • Carbon Nanotubes
          • Cement
          • Ceramics & Abrasives
          • CMP
          • Colloids
            • Colloidal Silica
          • Cosmetics
          • Drug Delivery
          • Flavoring and Flavorants
          • Food & Beverage
          • Frac Sand
          • Isoelectric Point with Autotitrator
          • Metal Powder
          • Milk Homogenization
          • Mining and Minerals
          • Nanoparticles
            • Metal Nanoparticles
            • Gold Nanoparticles
          • Nutraceuticals
            • Vitamins
          • Paper
          • Pharmaceutical Aerosols
          • Pharmaceuticals
            • Dendrimers
            • Liposomes
            • Viruses & Virus-Like Particles
          • Sugar Spheres
          • Pigments & Inks
          • Polyelectrolytes
          • Polymers & Plastics
          • Power Plants
          • Protein
          • Protein Aggregation
          • Road Materials
          • Particle Size Reduction
          • Soils & Sediments
          • Snow, Ice and Particle Size
          • Titanium Dioxide
          • Wastewater Treatment and Coagulants
        • Education
          • Classes and Seminars
          • LA-960
            • Method Development
              • Choosing Concentration for Laser Diffraction Size Measurement
              • Optimizing Ultrasonic Dispersion with the Method Expert
              • Simplify Choosing a Refractive Index with the Method Expert
              • Top 10 Lists
            • Software Features
              • Multimodal Report
            • Video FAQ
              • Method Expert - Imaginary RI
          • General Information
            • Data Interpretation
              • Understanding Particle Size Distribution Calculations
              • Number vs. Volume Distributions
            • Practical Tips
              • Choosing Laser Diffraction or Dynamic Light Scattering (DLS)
              • Keep Your Instrument Running
              • Setting Particle Size Specifications
            • System Verification
              • Laser Diffraction Verification
          • SZ-100
            • Particle Size by Dynamic Light Scattering Resources
              • Choosing Concentration for DLS Size Measurement
              • What is Z-Average?
              • Top 10 Lists
            • Zeta Potential by Electrophoretic Light Scattering
              • Top 10 Lists
        • Technologie
          • Dynamic Light Scattering
          • Laser Diffraction
            • Principes fondamentaux de la diffraction
          • Molecular Weight
          • Surface Area
          • Zeta Potential
        • Bibliographie
          • Book Reviews
            • Particle Size Measurements by Henk Merkus
          • LA-300
          • LA-910
          • LA-920
          • LA-930
          • LA-950
          • LB-550
          • SZ-100
          • Other
        • Plus de renseignements
        • Téléchargement
          • Analytical Test Methods
          • Application Data Sheets
          • Application List
          • Brochures
          • External Articles
          • Technical Background
          • Technical Notes
          • Webinars
            • Future Webinar Schedule
            • AP046
            • TE029v2
            • TE030
            • AP045v2
            • AP044v2
            • AP045
            • AP044
            • TE028
            • TE026
            • AP043
            • AP042
            • AP041
            • AP040
            • AP039
            • TE027
            • TE025
            • TE023
            • AP037
            • TE022
            • TE021
            • AP035
            • TR022
            • AP034
            • AP033
            • AP032
            • TE020
            • TR021
            • TR020
            • TR019
            • TR018
            • AP031
            • AP030
            • TR017
            • AP029
            • TR016
            • TR015
            • AP028
            • TR014
            • TR013
            • TR012
            • TR011
            • TE007
            • AP027
            • AP026
            • AP025
            • AP024
            • AP023
            • AP022
            • TE019
            • AP021
            • TE018
            • AP020
            • TE017
            • AP019
            • TE016
            • AP018
            • AP017
            • AP016
            • TR010
            • AP015
            • TR009
            • AP014
            • TE015
            • TE014
            • TE013
            • TE012
            • AP012
            • AP011
            • AP013
            • TE011
            • TE009
            • TE010
            • AP008
            • TR008
          • White Papers
        • Webinars
      • Petroleum Analyzer
      • Photoluminescence
        • PL Series
        • PL Mapper
        • Low temperature Photoluminescence (PL)
        • Microspectrometers for PL
        • PL - Sub Micron
        • III-V Semiconductor Devices
        • PL - Nanostructures Mapping
      • Plasma Profiling TOFMS
        • What is Plasma Profiling-TOFMS
        • Instrument
          • Video
        • News
        • Articles and Application Note
        • Downloads
        • Links
        • Software
      • Process Equipment
        • Plasma Analysis
        • Endpoint Detection
          • User Guide
        • Multi-Sensor Platform
        • Thin Film Thickness
        • Notes d'Application
        • Téléchargements
        • Plus de renseignements
      • Spectroscopie Raman
        • Spectromètres Raman
          • Raman Microscopes
            • LabRAM Odyssey
            • LabRAM Soleil
            • UV Raman
          • Benchtop and Portable Raman
          • Transmission Raman
          • Modular and Fiber Coupled Raman
            • Modular Raman
          • Triple Raman spectrometers
          • OEM Miniature Raman
        • Raman-AFM and Nano-Raman
          • TERS
          • HORIBA TERS Probes
          • TERS Application Examples
        • Imagerie Raman rapide
          • SWIFT
          • 3D Confocal Volume Imaging
          • Image Gallery
            • Expanded beads
            • Nano-indented Silicon
            • Rock section
            • Fluid inclusion 2
            • Layered MoS2
            • Whole tablet
            • Poly-silicon
            • Synthetic diamond
            • Fluid Inclusion
            • Graphene
            • Mineral section
            • Single Bacteria
            • BaSO4 beads in polymer
            • SWCNT
            • Bovine Embryo
            • Holographic Gratings Inscribed on Polymer Thin Films
            • Polystyrene Beads on Si plate
            • Thin section of wood cells
            • Rare Earth Doped LiNb03 based 3D Photonic Crystal
            • CNT
            • Femtosecond laser written waveguide on a Nd: YAG ceramic sample
        • Applications
          • Articles
        • Raman Academy
          • Raman Tutorial
            • Raman Spectroscopy
            • The Theory of Raman Spectroscopy
            • Enhancements
            • Micro Raman
          • How-to Raman
          • Raman FAQs
            • what is Raman Scattering?
            • Automated Screening
            • What samples can be analysed with Raman?
            • Can Raman spectra be obtained from solids, liquids and gases?
            • Can Raman spectra be obtained from a mixture of materials?
            • Can Raman spectra be obtained from aqueous materials?
            • How long does it take to acquire a Raman spectrum?
            • Is Raman spectroscopy qualitative or quantitative?
            • Can Raman be used for microscopic analysis?
            • Can Raman be used for macro/bulk analysis?
            • Can Raman be used for automated assays and high throughput screening?
            • Can Raman be used for remote in situ analysis?
            • Can Raman be used for in vivo analysis?
            • What are the most common applications of Raman spectroscopy?
            • When should I use Raman spectroscopy?
            • Can Raman be used to distinguish different phases and polymorphs of a material?
            • Can Raman be used to analyse crystallinity of a material?
            • Can Raman be applied at high/low temperatures, pressures or humidities?
            • What is confocal Raman microscopy?
            • What is remote in situ Raman analysis?
            • What is transmission Raman spectroscopy, or TRS?
            • What is polarised Raman spectroscopy?
            • What is resonance Raman spectroscopy?
            • What is surface enhanced Raman scattering, or SERS?
            • What is tip enhanced Raman scattering, or TERS?
            • What is a combined / hybrid / hyphenated Raman system?
            • What is a confocal Raman microscope?
            • Are all Raman microscopes confocal?
            • What analysis spot (or laser spot) size is used for a Raman microscope?
            • Is it possible to work with large laser spot sizes on a Raman microscope?
            • What is the spatial resolution of a Raman microscope?
            • Can a Raman microscope record Raman spectral images and profiles?
            • Can a Raman microscope be used for depth profiling and analysis of features below the surface?
            • Can a Raman microscope be used for analysis of liquids?
            • Can a Raman microscope be used for analysis of bulk samples?
            • What is Raman spectral imaging or Raman mapping?
            • What information can Raman spectral images provide?
            • How long does it take to acquire a Raman spectral image?
            • What is “ultra-fast Raman spectral imaging”?
            • Can Raman and PL (photoluminescence) measurements be made on the same instrument?
            • Can Raman and epifluorescence measurements be made on the same instrument?
            • Can Raman and AFM measurements be made on the same instrument?
            • What is low frequency analysis, and when is it needed?
            • What factors affect spectral resolution in a Raman spectrometer?
            • What is spectral resolution, and when is it needed?
            • What is an EMCCD detector?
            • What is a CCD detector?
            • What types of laser (Rayleigh) filtering are used?
            • What are the advantages and disadvantages of near infra-red (NIR) lasers for Raman?
            • What are the advantages and disadvantages of ultra-violet (UV) lasers for Raman?
            • What laser wavelengths are used for Raman spectroscopy?
            • Macro-Bulk Analysis
            • Micro Analysis
            • Remote Industrial Process Monitoring
            • Low Frequency Analysis
            • Difference between Dispersive Raman and FT-Raman
            • Spectral Resolution
            • Raman Spectroscopy
            • Hybrid
            • NIR Raman
            • UV Raman
            • What are the advantages of Raman for remote industrial process monitoring?
            • Applications for Raman Analysis
            • Hardware Required
            • Raman Spectroscopy
            • Raman Scattering
            • What is Spectral Resolution?
            • Confocal Raman Microscope
            • Dispersive Raman and FT-Raman
          • Webinars
        • Raman Channel
        • Logiciel
          • Functionality
            • ProtectionPlus
            • Batch processing
            • Validated performance
            • Templates and Methods
            • Video overlay
            • Customized reporting
            • Epifluorescence
            • MultiWell
            • Instant Processing
            • OneClick
            • OneCheck
            • FLAT Correction
            • Image Analysis and Display
            • User Accounts
            • Spectral Database Searching
            • ParticleFinder
              • Video
            • Multivariate Analysis
            • Scripting
            • NavMap™
            • NavSharp™
            • ViewSharp™
          • Collaborations
          • Upgrades
          • Interactive Brochure
        • Accessoires
        • Actualités & Evénements
        • Services
          • Online Training Registration
          • Application Laboratories
        • Téléchargements
        • Plus de renseignements
      • Préparation d’échantillons
        • Broyage
          • Broyeur Cryogénique
            • Consommables
          • Broyeur à billes
            • Consumables
          • Geno Grinder
            • Consumables
          • Disc grinder
            • Consumables
          • Hammer-Cutter Mill
        • Sample digestion
          • Microwave Digestion
          • Hot Block Digestion
            • Accessories
          • Automated Hot Block
        • Automated sample dilution
        • Borate fusion
          • Consumables
        • Pressing and pelletizing
          • Consumables
        • Calcination
        • Request Information
      • Sulfur-in-Oil
        • Application Briefs
        • Application Notes
          • Registration
        • Tier III Sulfur in Gasoline Analysis
          • Tier III Overview and Opportunities
          • Tier III Accuracy Testing
          • Tier III Precision Testing
          • Typical MESA-7220 Precision SQC Data
          • Typical MESA-7220 Accuracy SQC Data
          • D7220 Tier 2 & Tier 3 Testing Kits
        • SLFA Newsletter Signup
        • Service
        • Plus de renseignements
      • Surface Plasmon Resonance imaging (SPRi)
        • What is SPRi?
          • Information obtained by SPRi
          • SPRi a Complimentary Technique to ELISA
          • SPRi Technology
          • Movie
            • Windows Media Player plug-in Installation Guide
          • Storyboard
        • SPRi Platform
          • Sensor chips
          • Functionalised Sensor Chips
          • Spotting Systems
          • SPR imaging Systems
            • Video
            • XelPlex Video
          • OpenPlex Student Platform
          • Software
            • Ez suite
            • OpenPlex software suite
          • Reagents
        • SPR-MS Coupling
        • Articles & Application Notes
        • FAQs
        • Bio Day 2016
          • Program
          • Speakers
            • Kazunari AKIYOSHI
            • David BIRCH
            • Róbert E. GYURCSANYI
            • Ren Bin
          • Register Form
        • News & Events
        • Training
          • Online Training Registration
        • Webinars
        • Exclusive offer
        • Request information
      • Vacuum UV Spectroscopy
        • Monochromateurs et Spectrographes
          • VUV Monochromators and Spectrographs
            • PGM series
            • TGS series
            • VTM300
            • H20-UVL
            • VHR Series
            • Custom monochromators
          • VUV Systems
            • VUV Fluorescence
            • VUV Transmission
            • VUV Reflectance
            • Custom solutions
          • VUV Accessories
        • Synchrotron Beamlines
          • Monochromators
          • Slits
          • Mirror Chambers
          • Beamlines
        • Notes d'Application
        • FAQ
        • Téléchargements
        • Plus de renseignements
      • Water Quality
        • pH Meters
        • Ion Meters
        • Dissolved Oxygen Meters
        • Conductivity Meters
      • Spectrométrie de Fluorescence X
        • Micro-XRF Analyzer
        • RoHS and ELV Analysis
        • Sulfur-in-Oil Analyzer
        • XRF Tutorial
        • Image Gallery
        • Notes d'applications
        • Téléchargements
        • Training
        • Plus de renseignements
    • Marchés & Industries
      • Art, Museum & Conservation
      • Battery
      • Biology / Life Science
      • Biosecurity
      • Carbon Nanotubes
      • Display Technologies
      • Environmental
      • Food & Beverages
      • Forensic
      • Industrial Process
      • Mineralogy / Geology
      • Nanotechnology
      • OEM
      • Pharmaceuticals & Cosmetics
      • Photoluminescence
      • Photovoltaic / Solar Cell
      • Polymers
      • Semiconductors
      • Surface Science
    • Service & Support
      • Service & Support Request
    • Actualités & Evénements
      • Actualités
      • Evénements
        • Année de la Lumière
    • Newsletter
    • Société
      • HORIBA
      • HORIBA Jobin Yvon
        • History Timeline
    • Offres d’emplois
      • Brazil
      • Canada
      • China
        • Service Engineers (x3)
        • Sales Engineers (x4)
      • France
      • USA
    • Votre Avis
  • Recherche de Produits
  • HORIBA Advanced Techno
  • HORIBA STEC
  • HORIBA TECHNO SERVICE
  • Infos légales
    • English (original)
  • Données Personnelles
  • Cookies
  • Accessibilité
  • Plan du site
  • Recherche
© 1996-2026 HORIBA, Ltd. All rights reserved.
  • Infos légales
  • Données Personnelles
  • Cookies
  • Accessibilité
  • Plan du site
  • Recherche