2009年12月 1日 - 世界初 4項目全て自社センサー搭載 エネルギー変換効率の安定化に寄与
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2009年11月 4日 - 各種流体制御機器カタログのダウンロードサービスを再開いたしました。
2009年7月31日 - 社外の「分析計測技術」研究者の奨励賞
2009年3月27日 - 「半導体材料表面コンタミネーションの高感度・非破壊計測」
2009年3月13日 - 堀場エステックは、新製品として太陽電池パネルの生産ライン向けの小型残留ガス分析計を発売いたします。残留ガス分析計は半導体・液晶パネルの生産ラインに用いられる真空チャンバー内に残留している微量の不純物をリアルタイムに計測します。薄膜形成のプロセスを行う前に真空チャンバー内の状態を確認・分析する事により最適な状態でのプロセスが行え、半導体デバイス・液晶パネルの品質向上、生産性向上を目的に使用されています。
