組み合わせ測定

ベータ線吸収法と蛍光X線分析法の技術の融合によりPM質量濃度と元素濃度を同時測定できます。

従来、ICPや原子吸光法などを用いて分析されていたPMの成分分析を、HORIBA独自の低バックグランド捕集フィルタを採用した蛍光X線分析装置で実現しました。PMを捕集しながらPM質量濃度も測定できるため、PMの質量濃度と各元素の濃度を比較測定するなど、PM発生源推定の指標となるデータを取得できます。